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技術

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渦電流探傷試験

貫通コイルを用いた試験

渦電流探傷試験は、高周波の電磁誘導作用を利用して表面欠陥を検出し、評価します。センサー感度が十分な場合、非常に高い欠陥分解能が得られます。

被検査材料が貫通試験コイルを縦方向に通過するとき、点状の欠陥や亀裂があると、発生した渦電流の流れが干渉されます。このような不規則性は別の受信コイルを介して検出され、欠陥信号として表示されます。弊社の探傷試験コイルは、標準で差動巻線と絶対巻線が装備されており、横方向欠陥と点状欠陥の両方を検出し、アプリケーションによっては縦方向の欠陥も検出します。

試験コイルとセンサーシステムはDEFECTOMAT評価エレクトロニクスと組み合わせて使用し、お客様の特定の検査タスクに適合させることができます。


貫通試験コイルを用いた渦電流探傷試験の仕組み

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使用される商品

(1) DEFECTOMAT® DA (2) DEFECTOMAT® CI (3) EFECTOMAT® DI (4) 貫通試験コイル (5) DEFECTOARRAY®センサー

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回転センサーによる試験

回転ヘッドを使用する渦電流探傷試験では、センサーが非接触で被検査材の周囲を高速で回転し、表面をらせん状にスキャンします。このようにして、亀裂、過剰圧延、へげなど縦方向の欠陥が明らかになります。個々のセンサーは小型であるため、非常に高い感度が得られ、微細な欠陥も検出することができます。もう一つの利点は、縦方向の欠陥が全長にわたって検出されることです。

FOERSTER回転ヘッドはCIRCOGRAPH評価エレクトロニクスと連動します。お客様の材料径に確実に適合させるための様々な寸法のヘッドが使用可能です。距離補正機能により、特殊な形状や偏心した材料でも、持続的で再現性のある検査が可能です。


回転センサーを用いた渦電流探傷試験の仕組み

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使用される商品

(1) CIRCOGRAPH® CI (2) センサーシステム Ro 35 L (3) CIRCOGRAPH® DA (4) CIRCOGRAPH® DI

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